Óptico
El sistema de paletas OMEGA de ZEISS está diseñado para los instrumentos de medición ópticos ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Las paletas están disponibles con una superficie lisa, de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios proyectos con diferentes tamaños de rosca.
