El 31 de mayo vamos a estar acercándote un nuevo seminario de actualización tecnológica, en este caso sobre cómo se aplica la tomografía computada a la industria a través de la tecnología ZEISS que desde AMS tenemos en nuestra sala de metrología para lograr llevar adelante trabajos de control de calidad, digitalización, ingeniería inversa, entre otras.
El taller será dictado por nuestros especialistas en la tecnología XR y Software GOM de ZEISS, quienes se capacitaron en las oficinas centrales de la marca líder en digitalización. El programa de 2 horas de seminario-taller se compone de los siguientes temas:
→ Metrotomografía.
→ Presentación de la tecnología: Modelos Zeiss y materiales de aplicación.
→ Demostración en vivo del METROTOM 800 disponible en AMS (Metrología, inspección y análisis).
→ GOM Volume Inspect Pro.
→ Casos de aplicación: Industria Plástica; Modelos de fundición; Electrónica.
→ Beneficios de la aplicación de la tecnología de Rayos X en su producción.
→ Ingeniería inversa.
Vas a poder conocer todo sobre como digitalizar al instante tus productos para encontrar hasta lo invisible.
El seminario será en modalidad virtual el 31 de mayo de 9.50 AM a 12hs y la inscripción es 100% gratuita, solamente tenés que completar el formulario de Google que encontrás en el botón de abajo.
¡Si querés conocer más de METROTOM podes mirar el último video de nuestro canal de Youtube!