La tomografía computarizada industrial (CT) es una herramienta clave para el análisis no destructivo de componentes complejos. En el marco de un estudio científico recientemente publicado en la IEEE Aerospace and Electronic Systems Magazine, AMS – Advanced Machine Systems participó aportando su capacidad tecnológica en metrología por tomografía computarizada, aplicada al análisis de un sistema electrónico destinado a aplicaciones espaciales.
El estudio: calificación de un On-Board Computer para CubeSats
El trabajo, titulado “Qualification of a COTS based CubeSat OBC Through Proton Irradiation with a Die-Level Dose Estimation”, fue realizado por un equipo de investigación de UNSAM–CONICET y CNEA, y tuvo como objetivo evaluar la resiliencia frente a radiación ionizante del On-Board Computer LabOSat-02, diseñado para nanosatélites que operan en órbita baja terrestre (LEO).
Como parte del proceso de calificación, el sistema fue sometido a irradiación con protones de 14 MeV, manteniéndose completamente operativo durante el ensayo, mientras se monitoreaban errores de memoria, consumo eléctrico, temperatura y funcionamiento de interfaces.
El rol de AMS en el estudio
AMS fue responsable de realizar la tomografía computarizada (CT) del módulo LabOSat-02, un paso clave dentro de la metodología del trabajo.
Los autores agradecen expresamente a AMS por este aporte, indicando que la tomografía computarizada permitió realizar cálculos teóricos más precisos, fundamentales para el análisis del comportamiento del sistema bajo radiación.
La tomografía fue realizada utilizando un equipo ZEISS METROTOM 800, tecnología de referencia en tomografía computarizada industrial de alta precisión.
Tomografía computarizada METROTOM: información crítica para el análisis científico
El estudio utilizó los resultados de la tomografía computarizada para:
- Determinar las dimensiones reales del die (chip de silicio) del microcontrolador
- Medir con precisión los espesores del encapsulado superior e inferior
- Obtener una representación interna no destructiva del componente electrónico
Estos datos geométricos, obtenidos mediante CT, fueron utilizados como parámetros de entrada en simulaciones físicas (TRIM), que permitieron calcular cuánta energía depositan los protones dentro del silicio y, en consecuencia, estimar la dosis absorbida a nivel de chip (die-level dose estimation).
El informe destaca que esta aproximación mejora la precisión frente a estimaciones basadas únicamente en valores genéricos o de datasheet.
Tomografía computarizada industrial aplicada a sectores de alta exigencia
La participación de AMS en este estudio demuestra cómo la tomografía computarizada industrial METROTOM es una herramienta estratégica no solo para control de calidad y metrología dimensional, sino también para investigación científica avanzada, incluyendo aplicaciones aeroespaciales y electrónicas de alta confiabilidad.
La capacidad de visualizar, medir y analizar estructuras internas complejas sin destruir el componente resulta determinante en entornos donde la precisión de los datos geométricos impacta directamente en modelos físicos y decisiones de ingeniería.
